ซัพพลายเออร์ที่มีใบอนุญาตการทำธุรกิจ
ซัพพลายเออร์ที่ผ่านการตรวจสอบแล้ว Tonhui TH2684 Dual Channel High Precision Megger Teger Tester Tester Tester Tester Tester Tester มิเตอร์โอห์ม TH2684A
ข้อมูลเบื้องต้นโดยสรุป
TH2684/TH2684A High Precision IR Tester เป็นเครื่องมือวัดที่ใช้วัดที่มีความอัจฉริยะสำหรับการวัดคุณสมบัติของ IR ที่รวดเร็วสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบต่างๆ , ไดอุปกรณ์ไฟฟ้า , สายเคเบิลฯลฯ LCD ขนาดใหญ่และเมนูที่ใช้งานง่ายให้คุณใช้งานได้ง่าย อุปกรณ์นี้ได้รับการออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับการทดสอบ IR TH2684/TH2684A สามารถวัดค่าได้อย่างรวดเร็วด้วยวิธีต่อไปนี้ : 1 เลือกอิมพีแดนซ์อินพุตภายในได้ : หากกระแสไฟฟ้ามากกว่า 10nA สามารถใช้ได้เฉพาะ 10kΩ อิมพิแดนส์อินพุต 10kΩ หากกระแสต่ำกว่า 10nA คุณสามารถเลือก 1MΩ หรือ อิมพิแดนส์เพื่อทดสอบได้ 2 ด้วยเอาต์พุตแรงดันไฟฟ้าคู่ในตัว TH2684 สามารถชาร์จคาปาซิเตอร์ขนาดใหญ่ได้ ด้วยเอาต์พุตแรงดันไฟฟ้าคู่ TH2684 สามารถส่งเอาต์พุตแรงดันไฟฟ้าก่อนการชาร์จได้สูงสุด 500V, 200mA ในโหมดตามแรงดันไฟฟ้าแรงดันไฟฟ้าของโหมดชาร์จล่วงหน้าจะเป็นไปตามเอาต์พุตแรงดันไฟฟ้าทดสอบและสามารถปรับค่าอย่างละเอียดได้ คุณสมบัติข้างต้นช่วยให้มั่นใจได้ว่าจะได้รับชาร์จวัสดุคาปาซิทีฟที่สมบูรณ์แบบ 3 TH2684A สามารถส่งเอาต์พุตแรงดันไฟฟ้าขนาด 1000V, 100mA เพื่อชาร์จวัสดุคาปาซิทีฟได้เต็มที่ นอกจากนี้ผู้ใช้สามารถตั้งโปรแกรมขั้นตอนการวัดลำดับ ( สูงสุด 18 ขั้นตอน ) บน TH2684/TH2684A ตัวอย่างเช่นสามารถตั้งโปรแกรมขั้นตอนการชาร์จรอทดสอบและคายประจุได้ แต่ละขั้นตอนสามารถใช้งานได้นานถึง 100 วินาที TH2684/TH2684A มีฟังก์ชันตรวจจับหน้าสัมผัสที่เป็นเอกลักษณ์ สำหรับวัสดุคาปาซิทีฟเช่นคาปาซิเตอร์และสายเคเบิลฟังก์ชันตรวจจับการสัมผัสสามารถตรวจจับหน้าสัมผัสของชิ้นส่วนที่กำลังทดสอบได้ นอกจากนี้ฟังก์ชันการตรวจจับนี้จะไม่เพิ่มเวลาการทดสอบ TH2684 ใช้อินเตอร์เฟซของ RS232, อุปกรณ์ USB, การสแกนและ Handler ได้ อินเตอร์เฟซ Handler ให้สะดวกในการทดสอบระบบอัตโนมัติอินเตอร์เฟซการสแกนมีประโยชน์สำหรับการวัดส่วนประกอบจำนวนมาก ผู้ใช้สามารถใช้เครื่องสแกนเพื่อเร่งความเร็วในการวัดส่วนประกอบต่างๆได้
Tonhui TH2684 Dual Channel High Precision Megger Teger Tester Tester Tester Tester Tester Tester มิเตอร์โอห์ม TH2684A
| รุ่น | TH2684 | TH2684A |
| การทดสอบความต้านทาน | ||
| ช่วง | kΩ ถึง 50TΩ | kΩ ถึง 100TΩ |
| ความถูกต้องแม่นยำ | กระแสทดสอบ > 100pA: 2 % กระแสทดสอบ≤ 100 PA: 2 50% ± Vtest/2pA | |
| การทดสอบปัจจุบัน | ||
| ช่วง | ช่วงที่ 1 100uA - 1mA ความต้านทานอินพุตภายใน 10 kΩ | |
| ช่วงที่ 2 :10uA - 100uA อิมพีแดนซ์อินพุตภายใน 10 kΩ | ||
| ช่วงที่ 3 :1uA - 10uA อิมพีแดนซ์อินพุตภายใน 10 kΩ | ||
| ช่วงที่ 4 :100nA - 1uA อิมพีแดนซ์อินพุตภายใน 10 kΩ | ||
| ช่วงที่ 5 :10nA - 100nA, อิมพิแดนส์อินพุตภายใน 10 kΩ | ||
| ช่วงที่ 6 :1nA - 10nA, อิมพิแดนส์อินพุตภายใน 10 kΩ หรือ 1MΩ ( เลือกได้ ) | ||
| ช่วง 7 0:10pA - 1nA, อิมพิแดนส์อินพุตภายใน 10 kΩ หรือ 1MΩ ( เลือกได้ ) | ||
| ความถูกต้องแม่นยำ | 25% ± 2 pA | |
| แรงดันไฟฟ้าในการวัด | ||
| ช่วง | ความละเอียด 10 ถึง 500V, 1V | ความละเอียด 1000V, 1V |
| ความถูกต้องแม่นยำ | ค่าที่อ่านได้ 10% หรือ ± 2 V | |
| ความต้านทานแหล่งกำเนิด | 200Ω | |
| ขีดจำกัดปัจจุบัน | 2,25 หรือ 200 mA | คือ 100, 2 หรือ 25 mA |
| เอาต์พุตแรงดันไฟฟ้า | เปิดหรือปิดที่แผงด้านหน้าหรือควบคุมด้วยตัวตั้งเวลาในตัวหรือด้วยรีโมทคอนโทรล | |
| เวลา | เวลาในการชาร์จที่ตั้งโปรแกรมได้ : 0 ถึง 1000 วินาที | |
| การหน่วงเวลาการวัด | ตั้งโปรแกรมได้ 0 ถึง 1000 วินาที | |
| ความต้านทานการปล่อยออก | 2kΩ | |
| เวลาในการจ่ายพลังงาน | T = 0.03 x Cx ( ใน μF ) เมื่อ Vtest ลดลงเหลือ 1 % ของระดับการทดสอบ | |
| ความเร็วในการวัด | ||
| โหมดตรีโกณ | การวัดค่าเดียว : < 100 มิลลิวินาที ( ไม่รวมเวลาในการชาร์จ ) การวัดเฉลี่ยสูงสุด 100 ครั้ง :<50+ (N-4) 1 x 100 มิลลิวินาที ( ไม่รวมประจุ ) | |
| โหมดต่อเนื่อง | การอ่านค่าโดยตรง : 100 มิลลิวินาที - 10000 มิลลิวินาทีขึ้นอยู่กับจำนวนเฉลี่ย | |
| ตัวเปรียบเทียบ | ถาด : ( ถาด 3 ถาดสำหรับผ่าน 1 ถาดสำหรับไม่ผ่าน ) | |
| โหมดระยะ | อัตโนมัติ , พักสาย | |
| เวลาเฉลี่ย | ถึง 100 | |
| หน่วยความจำ | สามารถจัดเก็บชุดค่าที่ตั้งไว้ได้ | |
| การเชื่อมต่อมาตรฐาน | GPIB ( อุปกรณ์เสริม ), RS232C, เอาต์พุตอินเตอร์เฟสชนิด Handler , USBDEVICE ( รองรับ USBTMC และ USBCDC), USBHOST, การสแกน | |
ซัพพลายเออร์ที่มีใบอนุญาตการทำธุรกิจ
ซัพพลายเออร์ที่ผ่านการตรวจสอบแล้ว 
