มี เครื่องกำเนิดไฟฟ้าแบบดิจิตอลที่ทำงานได้รวดเร็ววงจรการเก็บข้อมูลความเร็วสูงมีกระแสไฟฟ้าเอาต์พุตและกระแสไฟฟ้ากระแสไฟฟ้ากระแสไฟฟ้ากระแสสูง ด้วยประสิทธิภาพที่สูงในด้านความเสถียรและความแม่นยำด้วยฮาร์ดแวร์ที่ทันสมัยและซอฟต์แวร์ที่ทำงานได้อย่างดีจึงเป็นแพลตฟอร์มการวิจัยที่ครอบคลุมสำหรับการกัดกร่อนแบตเตอรี่การวิเคราะห์ทางไฟฟ้าเซนเซอร์วิทยาศาสตร์การดำรงชีวิตและเคมีทางสิ่งแวดล้อมเป็นต้น
แอปพลิเคชัน
(1) 1 กระบวนการเกิดปฏิกิริยาของไฟฟ้าช็อตการย่อยสลายด้วยไฟฟ้า ( การเคลือบไฟฟ้า ) การทำปฏิกิริยากับออกซิเจนและอื่นๆ
(1) การวิเคราะห์และเซ็นเซอร์ไฟฟ้าเคมี 2
(1) 3 วัสดุพลังงานใหม่ ( แบตเตอรี่ Li-ion โซลาร์เซลล์เซลล์เซลล์เชื้อเพลิงตัวเก็บประจุพลังงานชนิดพิเศษ ) วัสดุที่ใช้งานได้ขั้นสูง วัสดุโฟโตอิเล็กทรอนิกส์ ;
(1) 4 การศึกษาการกัดกร่อนของโลหะในน้ำคอนกรีตและดินฯลฯ
(1) 5 การประเมินผลอย่างรวดเร็วเกี่ยวกับสารยับยั้งการกัดกร่อนตัวป้องกันน้ำอุปกรณ์ป้องกันการกัดกร่อนการเคลือบและประสิทธิภาพการป้องกันการกัดกร่อน
คุณสมบัติฮาร์ดแวร์
ตัวแปลงค่า AD 24 บิตความเร็วสูงแบบช่องทางคู่ / ความแม่นยำสูง
เครื่องวิเคราะห์การตอบสนองความถี่ภายใน (FRA) ช่วงความถี่ : 10μHz ~1MHz;
แอมพลิฟายเออร์ยูนิตชนิดอิมพิแดนส์สูงอินพุตแบนด์วิธสูง
ตัวสังเคราะห์สัญญาณดิจิตอล FPGA DDS ในตัว
เครื่องวัดระดับกำลังสูง , สถิติ / สถิติกาลาวาโอส / ZRA
ช่วงการควบคุมที่เป็นไปได้ : ±10V; แรงดันไฟฟ้าตามมาตรฐาน : ±21V;
ช่วงการควบคุมกระแสไฟ : ±2A ;
การแก้ปัญหาที่เป็นไปได้ : 10μV ; การแก้ปัญหาปัจจุบัน 1pA
คุณสมบัติของซอฟต์แวร์
ซอฟต์แวร์สตูดิโอ CS ช่วยให้ผู้ใช้มีชุดการทำให้เรียบ / แตกต่าง / การรวมที่หลากหลายซึ่งสามารถทำการคำนวณความสูงสูงสุด , พื้นที่สูงสุดและศักยภาพสูงสุดของโค้ง CV ได้อย่างสมบูรณ์
สตูดิโอ CS ยังมีข้อต่อแบบไม่ใช่เส้นตรงทรงพลังบนสมการของ Butler, Volmer ของโพลาไรเซชันกราฟเส้นโค้ง สามารถคำนวณความชัน Tafl ความหนาแน่นกระแสกัดกร่อนกระแสจำกัดความต้านทานการโพลาไรซ์อัตราการกัดกร่อน นอกจากนี้ยังสามารถคำนวณความหนาแน่นสเปกตรัมกำลังความต้านทานสัญญาณรบกวนและความต้านทานคลื่นรบกวนโดยใช้การวัดคลื่นรบกวนทางเคมีไฟฟ้า
ซอฟต์แวร์ CS Studio สามารถบันทึกข้อมูลการวัดได้แบบเรียลไทม์ ข้อมูลสามารถบันทึกได้โดยอัตโนมัติแม้ในกรณีที่ไฟดับกะทันหัน
ชุดสตูดิโอ CS มีนโยบายการตั้งเวลาที่หลากหลายในตัวสำหรับการวัดแบบรวมซึ่งสามารถอำนวยความสะดวกในการใช้ระบบอัตโนมัติของการทดลองและประหยัดเวลา
การวิเคราะห์แบตเตอรี่ : ประสิทธิภาพการชาร์จและการคายประจุความจุความจุในการเก็บประจุพลังงานการชาร์จและการคายประจุฯลฯ
การวิเคราะห์ EIS: boke, Nyquist, Modt-Schottky Plot
ข้อได้เปรียบทางเทคนิค
1 อิมพิแดนส์ (EIS)
มีข้อต่อของ CS series ละกันปลุก ( สถานีเคมีไฟฟ้า ) ใช้อัลกอริทึมในการรวมความสัมพันธ์และเทคนิคการเก็บตัวอย่างสองช่องสัญญาณและมีความสามารถในการป้องกันการรบกวนสูง เหมาะสำหรับการวัด EIS ของระบบอิมพิแดนส์สูง (> 109Ω เช่นการเคลือบ , คอนกรีตฯลฯ ) และยังสามารถใช้เพื่อเก็บค่าความจุไฟฟ้าแบบเส้นโค้งของ Mostt-Schottky และดิฟเฟอเรนเชียล ระหว่างการทดสอบซอฟต์แวร์สามารถแสดงผลศักย์วงจรเปิดแบบเรียลไทม์ (OCP) ได้โดยไม่ต้องใส่
EIS ของ A6063 Al Alsteel ใน C3+ ประกอบด้วย NaCl 3 % เส้นโค้งแบไรเซชันของอัลลอยอลาไรอิงตามรูปแอลฟารีและ
สแตนเลสสตีลในสารละลาย 3 % NaCl
2 โพลาไรซ์
สามารถทำการวัดเส้นโค้งแบบโพลาไรซ์เชิงเส้นและการพล็อต Tafl ได้ ผู้ใช้สามารถตั้งค่ากระแสกลับแบบอโนอิค ( กระแสไฟเมื่อแยกจากฟิล์มพาสเวชัน ) ของเส้นโค้งโพลาไรซ์ตามรอบเพื่อกำหนดแนวโน้มการติดเชื้อและโอกาสในการป้องกันของวัสดุและประเมินความไวต่อการกัดกร่อนแบบแบ่งย่อย ซอฟต์แวร์ใช้ฟิตติ้งแบบไม่ใช่เส้นตรงในการวิเคราะห์เส้นโค้งแบบโพลาไรซ์และสามารถประเมินความสามารถในการป้องกันการกัดกร่อนและยับยั้งของวัสดุได้อย่างรวดเร็ว
3 การวัดความผิดปกติของแรงดันไฟฟ้า
สามารถทำการวิเคราะห์ทางไฟฟ้าต่อไปนี้ได้ : Linear Sweep Voltammaraเมท (LV), Cyclic Voltammaretroเมท รี (CV-บันได Cyclic Volเมท รี (SCAV), Square wave volเมท รี (SCAเมท รี (SWV), ตรวจสอบความแตกต่างของพัลส์ volve) การวัดความผิดปกติของพัลส์แบบปกติ (NVN), การวัดความผิดปกติของ AC (ACV), การวัดความเปลี่ยนแปลงแบบลอกและอื่นๆโดยจะรวมการคำนวณพื้นที่พีคกระแสสูงสุดและการวิเคราะห์เส้นโค้งมาตรฐานเข้าด้วยกัน
เส้นโค้ง LSV: วัสดุคล้ายพรุนของคาร์บอนใน ความโค้งของเกาะปอลิตร 0.5 ล้านเมตรของซูเปอร์คาปาซิเตอร์ใน H2SO4 ล / ลิตร
4 ไฟฟ้าเคมี
ด้วยตัวตามความต้านทานสูงและแอมมิเตอร์ที่มีความต้านทานศูนย์ทำให้สามารถวัดความผันผวนของกระแส / แนวโน้มตามธรรมชาติในระบบการกัดกร่อนได้ สามารถใช้เพื่อศึกษาการกัดกร่อนตามด , การกัดกร่อนด้วยไฟฟ้า , การกัดกร่อนซอกซอน , การแตกของความเค้นและอื่นๆโดยใช้สเปกตรัมของสัญญาณรบกวนเราสามารถประเมินมาตรการจูงใจการเติบโตและการเสียชีวิตของสิ่งแปลกปลอมที่ทำให้เกิดหลุมและแตกร้าวได้ ตามการคำนวณความต้านทานต่อสัญญาณรบกวนและดัชนีการตามดทำให้สามารถทำการตรวจสอบการกัดกร่อนในพื้นที่ได้อย่างสมบูรณ์
ไฟฟ้าเคมีของเหล็กคาร์บอนต่ำในเหล็กคาร์บอน 0.05mL/L CL +0.1mL/L NaHCO3
5 การวัดแบบลอยตัวเต็มรูปแบบ
กระแสไฟฟ้ากระแสไฟฟ้าออกทางสถิติของ CS series ใช้อิเล็กโทรดทำงานแบบลอยตัวเต็มรูปแบบ สามารถใช้สำหรับการตรวจวัดอิเล็กโทรดเคมีไฟฟ้าบดอัตโนมัติการตรวจสอบการกัดกร่อนในสายการผลิตของชิ้นส่วนโลหะใต้พื้นดิน ( การกลับเหล็กในคอนกรีตฯลฯ )
6 วิธีการที่ผู้ใช้กำหนด
CS series CEstat stateปลุก ( สถานีเคมีไฟฟ้า ) สนับสนุนการวัดแบบผสมที่ผู้ใช้กำหนด ผู้ใช้สามารถตั้งค่า การวัดระยะเวลาตามรอบของวิธีการเคมีไฟฟ้าหรือวิธีการต่างๆได้
เราสามารถให้ตัวอย่างฟังก์ชัน API และการพัฒนาซึ่งช่วยอำนวยความสะดวกให้กับความต้องการของผู้ใช้บางคนสำหรับการพัฒนารองและการวัดที่กำหนดเอง
ข้อมูลจำเพาะ
| ข้อมูลจำเพาะ |
| รองรับระบบอิเล็กโทรด 2 หรือ 4 หรือ 3 |
| ช่วงการควบคุมที่เป็นไปได้ : ±10 โวลต์ |
ช่วงการควบคุมกระแสไฟ : ±2A |
| ความแม่นยำในการควบคุมศักย์ไฟฟ้า : 1% × ช่วงเต็ม±0.1 mV |
ความแม่นยำในการควบคุมกระแสไฟ : 0.1 % × เต็ม ช่วง |
| ความละเอียดที่แสดงได้ : 10μV (> 100Hz), 3μV (<10Hz) |
ความไวปัจจุบัน :1pA |
| เวลาขาขึ้น : < 1μs μ s (<10mA), < 10μS (<2A) |
ความต้านทานอินพุตอิเล็กโทรดอ้างอิง : μ 1012Ω |20pF |
| ช่วงปัจจุบัน : 2nA~2A, 10 ช่วง |
แรงดันไฟฟ้าตามมาตรฐาน : ±21V |
| เอาต์พุตกระแสไฟสูงสุด : 2A |
อัตรา การสแกน CV และ LSV : 0.001mV~10,000 V/s |
| ความ กว้างพัลส์ CA และ CC: 0.0001 65,000 วินาที |
การเพิ่มกระแส ไฟฟ้าในระหว่าง การสแกน : 1mA@1A/ms |
| การเพิ่มที่อาจเกิด ขึ้นระหว่าง การสแกน : 0.076mV@1V/ms |
ความถี่ SWV: 0.001~100 kHz |
| ความ กว้างพัลส์ DPV และ NPV คือ 0.0001 วินาที |
การเก็บข้อมูล AD :16bit@0 MHz, 1 บิต @1 kHz |
| ความ ละเอียดระดับ da, 16bit, เวลาการตั้งค่า : 1μs μ m |
การเพิ่มศักย์ต่ำสุด ใน CV: 0.075mV |
| ความถี่ IMP 10μHz ~1MHz |
ฟิลเตอร์โลว์พาส : ครอบคลุม 8 ทศวรรษ |
| ช่วงศักยภาพและกระแสไฟ : อัตโนมัติ |
| ข้อกำหนด PC และ O/S |
| อินเตอร์เฟซ : USB 2.0 |
ระบบปฏิบัติการ : |
| Windows 2000 NT/XP/ win7/win8/win10 |
| น้ำหนัก / การวัด |
| น้ำหนักสุทธิ : 6.5 กก . น้ำหนักรวม : 10 กก |
| ขนาดอุปกรณ์ : 36.5 x 30.5 x 16 ซม . หลังแพ็คเกจ : 52.5 x 37.5 x 22.5 ซม |
| ความต้านทานไฟฟ้าเคมีเชิงคลื่นเพื่อความสปี คoproposcope(EIS) |
| เครื่องกำเนิดสัญญาณ |
| ช่วงความถี่ 10μHz ~1MHz |
แอมพลิจูด AC:1mV~2500mV |
| ค่าดีแอส D:-40~+10V 10 |
ความต้านทานเอาต์พุต : ø 50Ω |
| รูปคลื่น : Sine wave สามเหลี่ยมและ Square wave |
การบิดเบือนของคลื่น :<70% 1 |
| โหมดการสแกน : ลอการิทึม / เส้นตรง , เพิ่ม / ลด |
| ตัววิเคราะห์สัญญาณ |
| Integral time: ต่ำสุด :10 ms หรือ เวลาที่นานที่สุด ของรอบการทำงาน |
สูงสุด : 106 รอบ หรือ 105s |
| การหน่วงเวลาการวัด :16~105s 0 |
| การชดเชยออฟเซ็ต DC |
| ช่วงการชดเชยอัตโนมัติที่เป็นไปได้ :10V~+10V |
ช่วงของค่าตอบแทนในปัจจุบัน :-1A~+1A |
| แบนด์วิธ : ช่วงความถี่ 8 ทศวรรษ การตั้งค่าอัตโนมัติและด้วยตนเอง |
ซอฟต์แวร์
เทคนิคของ CS series Single Channel ocosat
| เทคนิค / วิธีการทางเคมีไฟฟ้า |
CS150 |
CS300 |
CS310 |
CS350 |
| การโพลาไรซ์ที่เสถียร |
ศักย์ไฟฟ้าในวงจรเปิด (OCP) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| โพเทนชิโอสแตติก ( เส้นโค้ง I-T) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| กัลวาโนสแตติก |
√ |
√ |
√ |
√ |
| โพเทนชิโอไดนามิก ( พล็อตแบบทาเล ) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| Galvanodynamic |
√ |
√ |
√ |
√ |
| การโพลาไรซ์แบบชั่ว |
ขั้นตอนที่เป็นไปได้หลายขั้นตอน |
√ |
√ |
√ |
√ |
| ขั้นตอนที่มีกระแสไฟฟ้าหลายระดับ |
√ |
√ |
√ |
√ |
| ขั้นบันไดที่มีโอกาส (VSTEP) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| กัลวานิกขั้นบันได (ISTEP) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| ตามเวลาที่กำหนดไว้ |
โครโนมีศักยภาพ (CP) |
|
√ |
√ |
√ |
| โครอแอนทรี (CA) |
|
√ |
√ |
√ |
| โครโนมาตรศาสตร์ (CC) |
|
√ |
√ |
√ |
| การวัดความผิดปกติ |
การวัดความผิดปกติเชิงรอบ (CV-) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| การตรวจการเปลี่ยนแปลงการตรวจจับการเปลี่ยนแปลงแบบลิเนียร์ (LLSV) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| จำนวนการเปลี่ยนแปลงทางบันได (SVV) |
|
√ |
|
√ |
| การวัดความแรงคลื่นแบบสี่เหลี่ยม (SWV) # |
|
√ |
|
√ |
| Differential Pulse เมตาเมทรี (DPV)# |
|
√ |
|
√ |
| การตรวจร่างกายแบบพัลส์ปกติ (NVP)# |
|
√ |
|
√ |
| ดิฟเฟอเรนเชียลพัลส์ผิดปกติแบบพัลส์ขนาดปกติ (DPVN)# |
|
√ |
|
√ |
| การวัดความผิดปกติ (ACV) # |
|
√ |
|
√ |
| ฟังก์ชัน I.C.C. 2 2 2 2 2 2 2 2 โวลต์เพื่อการงัดแงะ (HACV) |
|
√ |
|
√ |
| แอมเพอร์โกเมทรี |
พัลส์ดิฟเฟอเรนเชียล Amperologมาตร (DAA) |
|
|
|
√ |
| ความเร็วสองเท่าของพัลส์แบบ Amperologry (DDAA) |
|
|
|
√ |
| แอมรีพัลส์สามเท่า (TPA) |
|
|
|
√ |
| การตรวจจับพัลส์แบบรวมพัลส์มีมิติ (ipperrick) (iPad ในตัว |
|
|
|
√ |
| EIS |
EIS พบกับความถี่ (IMP) |
|
|
√ |
√ |
| EIS vs เวลา (IMPT) |
|
|
√ |
√ |
| EIS พบกับศักยภาพ (IMPE)( นักเรียน -Schottky ) |
|
|
√ |
√ |
| การทดสอบการกัดกร่อน |
การเปิดใช้งานเครื่องวัดระดับไฟฟ้าในทางไฟฟ้า (ElectroChemical okinotic ) (EPR) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| สัญญาณรบกวนทางไฟฟ้า ( ภาษาอังกฤษ ) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| แอมมิเตอร์ที่มีความต้านทานเป็นศูนย์ (ZRA) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| การทดสอบแบตเตอรี่ |
ประจุและคายประจุแบตเตอรี่ |
√ |
√ |
√ |
√ |
| ประจุไฟฟ้าสถิตและคายประจุ (GCD) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| ส่วนขยาย |
ตัวบันทึกข้อมูล |
√ |
√ |
√ |
√ |
| การปอก / กำจัดสารเคมีในทางไฟฟ้า |
√ |
√ |
|
√ |
| อิเล็กโตรไลซิสขนาดใหญ่ด้วยคูลอมบ์ ( รอ ) |
√ |
√ |
√ |
√ |
ซัพพลายเออร์ที่ผ่านการตรวจสอบแล้ว 
