เครื่องวัดระดับไฟฟ้าของเวิร์คสเตชั่นสำหรับไฟฟ้าคือ Galvanostat ที่มี EIS/Zra รุ่น CS350m

• After-sales Service: Free
• Warranty: 5 Years
• ปรับแต่ง: ไม่มีการปรับแต่ง
• โครงสร้าง: เดสก์ทอป
• การรับรอง: CE, ISO
• แอปพลิเคชัน: โรงเรียน, แล็บ
• ไม่ใช่ ของรุ่น: CS350M
• พิมพ์: ประเภทการวัด
• ช่วงการควบคุมที่เป็นไปได้: ±10 โวลต์
• ช่วงการควบคุมกระแสไฟ: ±2a
• ช่วงความถี่: 10μhz ~1 MHz
• ระบบอิเล็กโทรด: รองรับระบบอิเล็กโทรด 2 -, 3 - 4 และ 5
• ของคุณ: Tafel, CV, Lsv, Eis, Ca, Gcd, Ocp, I-V
• แพคเพจการขนส่ง: Standard Carton
• ข้อมูลจำเพาะ: benchtop, 36.5 x 30.5 x16cm
• เครื่องหมายการค้า: Corrtest
• ที่มา: China
• รหัสพิกัดศุลกากร: 9027899090
• กำลังการผลิต: 1000 Sets/Year

คำอธิบายสินค้า

 เครื่องวัดแนวโน้มไฟฟ้ากระแสไฟฟ้า / กระแสไฟฟ้า / เวิร์คสเตชั่นไฟฟ้า CS350M เป็นรุ่นแบบช่องสัญญาณเดียวที่ทันสมัยที่สุด ประกอบด้วยเครื่องกำเนิดไฟฟ้าแบบเรียกฟังก์ชันที่กำหนดเองมีอำนาจเต็มสูงสถิติ / กระแสไฟฟ้าสตัทเครื่องวิเคราะห์สหสัมพันธ์แบบสองช่องความเร็วสูง 16bit/ ความเที่ยงตรงสูง 24 บิตคอนเวอร์เตอร์และอินเตอร์เฟซขยาย มีเทคนิคเคมีไฟฟ้ามากกว่า 40 เทคนิครวมถึง EIS ในตัว ( 10μHz ~1MHz) กระแสไฟฟ้าสูงสุดคือ ±2A ช่วงที่เป็นไปได้คือ ±10 โวลต์ กระแสไฟสามารถเพิ่มขึ้นได้ถึง 20A และแรงดันไฟฟ้าที่สอดคล้องกันสามารถขยายได้สูงสุด 30 V

แอปพลิเคชัน  
การศึกษาวัสดุพลังงาน ( แบตเตอรี่ Li-ion โซลาร์เซลล์เซลล์เซลล์เชื้อเพลิงตัวเก็บประจุพลังงาน ) วัสดุที่ใช้งานได้ขั้นสูง
การสังเคราะห์ไฟฟ้า , การชุบด้วยไฟฟ้า / การแยกอิเล็กโทรด , การออกซิเดชันแบบแอโนด , อิเล็กโทรลิซิส
การศึกษาการกัดกร่อนและการประเมินความต้านทานการกัดกร่อนของโลหะการประเมินอย่างรวดเร็วเกี่ยวกับสารยับยั้งการกัดกร่อนสารเคลือบและประสิทธิภาพการป้องกันการกัดกร่อน
อิวอลไลซิส ( ของเธอ , OER, ORR, CO2RR, NRR)

อุปกรณ์สิ้นเปลืองมาตรฐาน
โฮสต์อุปกรณ์ CS350M x1
CS Studio Software x1
สายไฟ x1
สาย USB x1
สายเคเบิลเซลล์ x2
เซลล์จำลอง ( 1kΩ ||)x1 100µF
กำหนดเอง x 1

บริการหลังการขาย
1 ระยะเวลาการรับประกัน : 5 ปี
2 มีคู่มือการติดตั้งคู่มือวิดีโอการติดตั้งซอฟต์แวร์และวิดีโอการฝึกอบรม
3 ให้บริการซ่อมแซมฟรี
4 การอัปเกรดซอฟต์แวร์และบริการด้านเทคนิคฟรีตลอดอายุการใช้งาน
 

ข้อมูลจำเพาะ
รองรับระบบอิเล็กโทรด 2 หรือ 4 หรือ 3	ช่วงศักยภาพและกระแสไฟ : อัตโนมัติ
ช่วงการควบคุมที่เป็นไปได้ : ±10 โวลต์	ช่วงการควบคุมกระแสไฟ : ±2A
ความแม่นยำในการควบคุมศักย์ไฟฟ้า : 1% × ช่วงเต็ม±0.1 mV	ความแม่นยำในการควบคุมกระแสไฟ : 0.1 % × เต็ม ช่วง
ความละเอียดที่แสดงได้ : 10μV (> 100Hz), 3μV (<10Hz)	ความไวปัจจุบัน :1pA
เวลาขาขึ้น : < 1μs μ s (<10mA), < 10μS (<2A)	ความต้านทานอินพุตอิเล็กโทรดอ้างอิง : μ 1012Ω |20pF
ช่วงปัจจุบัน : 2nA~2A, 10 ช่วง	แรงดันไฟฟ้าตามมาตรฐาน : ±21V
เอาต์พุตกระแสไฟสูงสุด : 2A	อัตรา   การสแกน CV และ LSV: 0.001mV~10,000 V/s
ความ กว้างพัลส์ CA และ CC: 0.0001 65,000 วินาที	การเพิ่มกระแส ไฟฟ้าในระหว่าง การสแกน : 1mA@1A/ms
การเพิ่มที่อาจเกิด ขึ้นระหว่าง การสแกน : 0.076mV@1V/ms	ความถี่ SWV: 0.001~100 kHz
ความ    กว้างพัลส์ DPV และ NPV คือ 0.0001 วินาที	การเก็บข้อมูล AD :16bit@0 MHz, 1 บิต @1 kHz
ความ ละเอียดระดับ da, 16bit,  เวลาการตั้งค่า : 1μs μ m	การเพิ่มศักย์ต่ำสุด  ใน CV: 0.075mV
ความถี่ IMP 10μHz ~1MHz	ฟิลเตอร์โลว์พาส : ครอบคลุม 8 ทศวรรษ
ระบบปฏิบัติการ : Windows 10/11	อินเตอร์เฟซ : USB 2.0
น้ำหนัก / การวัด : 6.5 กก ., 36.5 x 30.5 ซม
EIS (ElectroChemical Spectromoscope)
เครื่องกำเนิดสัญญาณ
ช่วงความถี่ 10μHz ~1MHz	แอมพลิจูด AC:1mV~2500mV
ค่าดีแอส Dc.: -10~+10V 10	ความต้านทานเอาต์พุต : 50Ω Ω
รูปคลื่น : Sine wave  สามเหลี่ยมและ  Square wave	การบิดเบี้ยวแบบคลื่น : < 1 %
โหมดการสแกน : ลอการิทึม / เส้นตรง , เพิ่ม / ลด
ตัววิเคราะห์สัญญาณ
Integral time: ต่ำสุด :10 ms หรือ   เวลาที่นานที่สุด   ของรอบการทำงาน	สูงสุด : 106 รอบ หรือ 105s
การหน่วงเวลาการวัด : 0 วินาที
การชดเชยออฟเซ็ต DC
ช่วงการชดเชยอัตโนมัติที่เป็นไปได้ :10V~+10V	ช่วงของค่าตอบแทนในปัจจุบัน :-1A~+1A
แบนด์วิธ :   ช่วงความถี่ 8 ทศวรรษ   การตั้งค่าอัตโนมัติและด้วยตนเอง

วิธีการ / เทคนิคทางไฟฟ้า ( การเปรียบเทียบรุ่น )
 รุ่น CS350M เป็นรุ่นที่ครอบคลุมที่สุดรวมถึงวิธีการทางเคมีไฟฟ้าทั้งหมดรวมถึง EIS
 คุณสามารถดูการเปรียบเทียบของรุ่น Single-channel ได้จากตารางต่อไปนี้

เทคนิคต่างๆ		CS300M (EIS)	CS310M ( ที่มี EIS)	CS350M ( ที่มี EIS)
มั่นคง การโพลาไรซ์	ศักย์ไฟฟ้าในวงจรเปิด (OCP)	√	√	√
	โพเทนชิโอสแตติก ( เส้นโค้ง I-T)	√	√	√
	กัลวาโนสแตติก	√	√	√
	โพเทนชิโอไดนามิก ( พล็อตแบบทาเล )	√	√	√
	Galvanodynamic	√	√	√
การโพลาไรซ์แบบชั่ว	ขั้นตอนที่เป็นไปได้หลายขั้นตอน	√	√	√
	ขั้นตอนที่มีกระแสไฟฟ้าหลายระดับ	√	√	√
	ขั้นบันไดที่มีโอกาส (VSTEP)	√	√	√
	กัลวานิกขั้นบันได (ISTEP)	√	√	√
ตามเวลา วิธีการ	โครโนมีศักยภาพ (CP)	√	√	√
	โครอแอนทรี (CA)	√	√	√
	โครโนมาตรศาสตร์ (CC)	√	√	√
การวัดความผิดปกติ	การวัดความผิดปกติเชิงรอบ (CV-)	√	√	√
	การตรวจการผิดปกติของการกวาดแบบเส้นตรง (LSV)(I-V)	√	√	√
	จำนวนการเปลี่ยนแปลงทางบันได (SVV)	√		√
	การวัดความแรงคลื่นแบบสี่เหลี่ยม (SWV) #	√		√
	Differential Pulse เมตาเมทรี (DPV)#	√		√
	การตรวจร่างกายแบบพัลส์ปกติ (NVP)#	√		√
	ดิฟเฟอเรนเชียลพัลส์ผิดปกติแบบพัลส์ขนาดปกติ (DPVN)#	√		√
	AC voltเม ตรี (AACV) #	√		√
	ฟังก์ชัน I.C.C. 2 2 2 2 2 2 2 2 โวลต์เพื่อการงัดแงะ (HACV)	√		√
แอมเพอร์โกเมทรี	พัลส์ดิฟเฟอเรนเชียล Amperologมาตร (DAA)			√
	ความเร็วสองเท่าของพัลส์แบบ Amperologry (DDAA)			√
	แอมรีพัลส์สามเท่า (TPA)			√
	การตรวจจับพัลส์แบบรวมพัลส์มีมิติ (ipperrick) (iPad ในตัว			√
EIS	EIS แบบเครื่องวัดระดับไฟฟ้าสถิต ( ไน quist, BoDE)		√	√
	Galvanovstatic EIS		√	√
	เครื่องวัดระดับไฟฟ้าสถิต EIS ( ความถี่ที่เลือกได้ )		√	√
	Galvanovstatic EIS( ความถี่ที่เลือกได้ )		√	√
	มอตต์ - ชตสกี		√	√
	เครื่องวัดระดับไฟฟ้าสถิต EIS เทียบกับเวลา ( ความถี่เดียว )		√	√
	Galvanovstatic EIS เทียบกับเวลา ( ความถี่เดียว )		√	√
การกัดกร่อน  ทดสอบ	เส้นโค้งโพลาไรซ์แบบวน (CPP)	√	√	√
	เส้นโค้งโพลาไรซ์แบบเส้นตรง (LPR)	√	√	√
	การเปิดใช้งานเครื่องวัดระดับไฟฟ้าในทางไฟฟ้า (ElectroChemical okinotic ) (EPR)	√	√	√
	สัญญาณรบกวนทางไฟฟ้า ( ภาษาอังกฤษ )	√	√	√
	แอมมิเตอร์ที่มีความต้านทานเป็นศูนย์ (ZRA)	√	√	√
การทดสอบแบตเตอรี่	ประจุและคายประจุแบตเตอรี่	√	√	√
	ประจุไฟฟ้าสถิตและคายประจุ (GCD)	√	√	√
	การชาร์จไฟโดยใช้เครื่องวัดระดับไฟฟ้าสถิตและการคายประจุ PCD )	√	√	√
	เทคนิคการไตเตรทแบบไม่ต่อเนื่องของโทเทรไตเตรท (ioStatic Interm	√	√	√
	เทคนิคการไตเตรทแบบเว้นระยะของ GalvanoStatic (GITET)	√	√	√
ส่วนขยาย	ตัวบันทึกข้อมูล	√	√	√
	อิเล็กโตรไลซิสขนาดใหญ่ด้วยคูลอมบ์ ( รอ )	√	√	√

ข้อได้เปรียบทางเทคนิค
1 อิมพิแดนส์ (EIS)
CS350M สถิติการกระตุ้นกระแสไฟฟ้าของแต่ละประเทศใช้อัลกอริทึมการรวมความสัมพันธ์และเทคนิคการสุ่มตัวอย่างแบบสองช่องและมีความสามารถในการป้องกันการรบกวนสูง เหมาะสำหรับการวัด EIS ของระบบอิมพิแดนส์สูง (> 109Ω เช่นการเคลือบ , คอนกรีตฯลฯ )

EIS ของ A6063 Al Alsteel ใน C3+ ประกอบด้วย NaCl 3 % การแก้ปัญหา
 

2 โพลาไรซ์
สามารถดูแผนผังของ Tafel ได้ ผู้ใช้สามารถตั้งค่ากระแสกลับแบบอโนอิค ( กระแสไฟเมื่อแยกจากฟิล์มพาสเวชัน ) ของเส้นโค้งโพลาไรซ์ตามรอบเพื่อให้ได้รับศักยภาพในการติดเชื้อและโอกาสในการป้องกันของวัสดุและประเมินความไวต่อการกัดกร่อนแบบอินเกรน ซอฟต์แวร์ใช้ฟิตติ้งแบบไม่ใช่เส้นตรงในการวิเคราะห์เส้นโค้งแบบโพลาไรซ์และสามารถประเมินความสามารถในการป้องกันการกัดกร่อนและยับยั้งของวัสดุได้อย่างรวดเร็ว

เส้นโค้งโพลาไรซ์ของโลหะผสม Amphous และสแตนเลสสตีลนิ้วซึ่งเป็นอุปกรณ์ยึดตาม Ti โซลูชัน NaCl 3 %

3  การวัดความผิดปกติของแรงดันไฟฟ้า
CS350M ประกอบด้วย Linear Sweep Voltammarเมท รี (LSV), Cyclic Voltammer(CV-SCV, SWV, DPV, NV, ACV, การวัดความเปลี่ยนแปลงการโค้งสายไฟฯลฯจะรวมการคำนวณพื้นที่สูงสุดการวิเคราะห์เส้นโค้งกระแสสูงสุดและเส้นโค้งมาตรฐานเข้าด้วยกัน

LSV: สารคาร์บอนพรุนในเกาะ 0.1M

 

CV ของซุปเปอร์คาปาซิเตอร์ PPy ใน 0.5 mL/L H2SO4

4 ไฟฟ้าเคมี
ด้วยตัวตามความต้านทานสูงและแอมมิเตอร์ที่มีความต้านทานศูนย์ทำให้สามารถวัดความผันผวนของกระแส / แนวโน้มตามธรรมชาติในระบบการกัดกร่อนได้ สามารถใช้เพื่อศึกษาการกัดกร่อนตามด , การกัดกร่อนด้วยไฟฟ้า , การกัดกร่อนซอกซอน , การแตกตัวของความเค้นและฯลฯโดยอ้างอิงจากการคำนวณการต้านทานสัญญาณรบกวนและดัชนีการเจาะทำให้สามารถทำการตรวจสอบการกัดกร่อนในพื้นที่ได้อย่างสมบูรณ์

     

5 การวัดแบบลอยตัวเต็มรูปแบบ

โหมดการลอยตัวแบบสมบูรณ์ใช้สำหรับการวัดอิเล็กโทรดด้วยไฟฟ้าแบบเคลฟราวนด์ , การตรวจสอบการกัดกร่อนในสายการผลิตของชิ้นส่วนโลหะใต้พื้นดิน ( การกลับแท่งเหล็กในคอนกรีตฯลฯ )

ชุดพัฒนาที่สอง (SDK) 6 ชุด

เราสามารถให้ตัวอย่างฟังก์ชัน API และการพัฒนาซึ่งช่วยอำนวยความสะดวกให้กับความต้องการของผู้ใช้บางคนสำหรับการพัฒนารองและการวัดที่กำหนดเอง สามารถทำได้ใน Ladview ฯลฯ

คุณสมบัติของซอฟต์แวร์
ซอฟต์แวร์สตูดิโอ CS ช่วยให้ผู้ใช้มีชุดการทำให้เรียบ / แตกต่าง / การรวมที่หลากหลายซึ่งสามารถทำการคำนวณความสูงสูงสุด , พื้นที่สูงสุดและศักยภาพสูงสุดของโค้ง CV ได้อย่างสมบูรณ์ ในเทคนิค CV และประจุไฟฟ้าสถิตที่กระตุ้นและคายประจุในระหว่างการวิเคราะห์ข้อมูลจะมีฟังก์ชันในการเลือกรอบที่แน่นอนที่จะแสดง คุณสามารถเลือกดูรอบหรือรอบบางรอบได้ตามต้องการ คุณยังสามารถส่งออกข้อมูลหรือเวกเตอร์กราฟของรอบที่แน่นอนหรือรอบหลายๆรอบได้

สตูดิโอ CS ยังมีข้อต่อแบบไม่ใช่เส้นตรงทรงพลังบนสมการของ Butler, Volmer ของโพลาไรเซชันกราฟเส้นโค้ง สามารถคำนวณความชัน Tafl ความหนาแน่นกระแสกัดกร่อนกระแสจำกัดความต้านทานการโพลาไรซ์อัตราการกัดกร่อน นอกจากนี้ยังสามารถคำนวณความหนาแน่นสเปกตรัมกำลังความต้านทานสัญญาณรบกวนและความต้านทานคลื่นรบกวนโดยใช้การวัดคลื่นรบกวนทางเคมีไฟฟ้า


การวิเคราะห์แบตเตอรี่ : ประสิทธิภาพการชาร์จและการคายประจุความจุความจุในการเก็บประจุพลังงานการชาร์จและการคายประจุที่เฉพาะเจาะจง

การวิเคราะห์ EIS: boke, Nyquist, Modt-Schottky Plot
ในระหว่างการวิเคราะห์ข้อมูล EIS จะมีฟังก์ชันฟิตติ้งในตัวสำหรับดึงวงจรเทียบเท่าที่กำหนดเอง

ซอฟต์แวร์ CS Studio สามารถบันทึกข้อมูลการวัดได้แบบเรียลไทม์ ข้อมูลสามารถบันทึกได้โดยอัตโนมัติแม้ในกรณีที่ไฟดับกะทันหัน
ชุดสตูดิโอ CS มีนโยบายการตั้งเวลาที่หลากหลายในตัวสำหรับการวัดแบบรวมซึ่งสามารถอำนวยความสะดวกในการใช้ระบบอัตโนมัติของการทดลองและประหยัดเวลา ด้วยฟังก์ชันการทดสอบแบบผสมที่ไม่ซ้ำกันคุณสามารถเลือกเทคนิคต่างๆและตั้งค่าเวลารอเวลาเริ่มต้นและรอบ เลือกการทดลองที่คุณต้องการใช้แล้วคลิกเพิ่ม จากนั้นคุณสามารถทำการวัดการทดลองเซ็ตอัตโนมัติได้ตามต้องการโดยไม่ต้องรอในห้องปฏิบัติการ ฟังก์ชันนี้จะมีประโยชน์เป็นพิเศษเมื่อคุณมีการทดลองหลายครั้งเพื่อใช้งานและประหยัดเวลาของคุณอย่างมาก