ซัพพลายเออร์ที่มีใบอนุญาตการทำธุรกิจ
ซัพพลายเออร์ที่ผ่านการตรวจสอบแล้ว
เซรามิคอลูมิเนียม :
ซับสเตรตอลูมินายังมีคุณสมบัติที่เป็นเอกลักษณ์หลายอย่างด้วย :
แอปพลิเคชัน :
ตัวต้านทานเครือข่าย , ตัวต้านทานชิป , ชุดตัวต้านทานชิป , ไฮบริด IC แบบฟิล์มหนา , วงจร IC ไฮบริดแบบฟิล์มบาง , ตัวแยกทั่วไป
| คุณสมบัติของวัสดุซับสเตรตเซรามิคอลูมินา | ||||
| รายการ | หน่วย | 10% Al2O3 96 | 10% Al2O3 99.6 | |
| คุณสมบัติทางกล | ||||
| สี | / | / | สีขาว | งาช้าง |
| ความหนาแน่น | วิธีการระบายน้ำ | g/cm3 | ≥3.70 | ≥3.95 |
| การสะท้อนแสง | 400nm/ 1 มม | % | 94 | 83 |
| ความทนต่อการโค้งงอ | การดัดสามจุด | MPa | 350 ปี | 500 ปี |
| ความทนทานต่อการแตกหัก | วิธีการเยื้อง | MPa· M1/1 2 | 3 | 3 |
| ความแข็งแบบวิกเกอร์ส | โหลด 4.9N | GPA | 14 | 16 |
| โมดูลัสของวัยหนุ่ม | วิธีการยืดกล้ามเนื้อ | GPA | 340 | 300 |
| การดูดซับน้ำ | % | 0 | 0 | |
| แคมเบอร์ | / | ความยาวที่เพิ่มขึ้น | t≤2: 5 ≤0.3 การรับสาย , อื่นๆ : ≤3 การรับสาย | ขนาด 3 ≤ |
| คุณสมบัติด้านความร้อน | ||||
| สูงสุด อุณหภูมิการซ่อมบำรุง ( ขณะจ่ายผลิตภัณฑ์ ) | / | º C | 1200 | 1400 |
| CTE ( สัมประสิทธิ์ของการขยายตัวจากความร้อน ) | 200 º C | 1 × 10 - 6 º / º C | 7.8 | 7.9 |
| การนำความร้อน | 25 º C | พร้อมด้วย · | 24 ปี | 29 ปี |
| การทนต่อการกระแทกจากความร้อน | 800 º C | ≥10 ครั้ง | ไม่มีรอยร้าว | ไม่มีรอยร้าว |
| ความร้อนจำเพาะ | 25 º C | J/ กก .· k | 750 | 780 |
| คุณสมบัติทางไฟฟ้า | ||||
| ค่าคงที่ dipElectric | 25 º C, 1 MHz | / | 9.4 | 9.8 |
| มุมสูญเสียแบบไดไฟฟ้า | 25 º C, 1 MHz | × 10 ^-4 | ≤3 | ≤2 |
| ความต้านทานปริมาตร | 25 º C | ø Ω· ซม | ≥10 ^1 14 | ≥10 ^1 14 |
| กำลังแบบไดอิเล็กทริก | DC | ks/mm | ≥15 | ≥15 |
| ข้อมูลจำเพาะของการผลิตแผ่นเซรามิคอลูมิเนียม | |||||||
| 10% Al2O3 99.6 | |||||||
| ความหนา ( มม .) | ขนาดสูงสุด ( มม .) | ได้อย่างมีพรับ | เทคนิคการโมลด์ | ||||
| เมื่อยิง | ตบ | ขัดเงาแล้ว | แบบสี่เหลี่ยม | สี่เหลี่ยมจัตุรัส | กลม | ||
| 0.1 0.2 | 50.8 | 50.8 | √ | √ | การร่ายเทป | ||
| 0.25 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | |||
| 0.38 | 120 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | ||
| 0.5 | 120 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | ||
| 0.635 | 120 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | ||
| ความหนาพิเศษอื่นๆที่มีช่วงความหนา 0.1 มม . สามารถวัดได้ด้วยการตีลง | |||||||
| 10% Al2O3 96 | |||||||
| ความหนา ( มม .) | ขนาดสูงสุด ( มม .) | ได้อย่างมีพรับ | เทคนิคการโมลด์ | ||||
| เมื่อยิง | ตบ | ขัดเงาแล้ว | แบบสี่เหลี่ยม | สี่เหลี่ยมจัตุรัส | กลม | ||
| 0.25 | 120 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | ||
| 0.3 | 120 | 114.3 | 114.3 | √ | การร่ายเทป | ||
| 0.38 | 140 × 190 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 0.5 | 140 × 190 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 0.635 | 140 × 190 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 0.76 | 130 × 140 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 0.8 | 130 × 140 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 0.89 | 130 × 140 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 1 | 280 × 240 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 1.5 | 165 × 210 | √ | การร่ายเทป | ||||
| 2 | 500 × 500 | √ | การร่ายเทป | ||||
| ความหนาพิเศษอื่นๆที่มีช่วงความหนา 0.1 มม . สามารถทำได้ด้วยการตีเส้น | |||||||
| ผลิตภัณฑ์ทนทานต่อสารเคลือบเซรามิค | ||||
| รายการ | ความหนาของซับสเตรต ( มม .) | เกณฑ์ความคลาดเคลื่อนมาตรฐาน ( มม .) | เกณฑ์ความคลาดเคลื่อนที่ดีที่สุด ( มม .) | ความคลาดเคลื่อนในการตัดด้วยเลเซอร์ ( มม .) |
| ความคลาดเคลื่อนของความยาวและความกว้าง | / | ±2 | ±0.15 | |
| ความคลาดเคลื่อนของความหนา | T<0.3 | ±0.03 | ±0.01 | |
| 0.30 1.0 | ±0.05 | ±0.01 | ||
| p>1.0 | ±10 % | ±0.01 | ||
| ความขรุขระของพื้นผิวซับสเตรตเซรามิคอลูมิเนียม | |||
| วัสดุ | ความขรุขระของพื้นผิว ( ø μm | ||
| เมื่อยิง | ตบ | ขัดเงาแล้ว | |
| 10% Al2O3 96 | RA 0.2 - 0.75 | RA 0.3 - 0.7 | RA ≤0.05 |
| 10% Al2O3 99.6 | RA 0.05 - 0.15 | RA 0.1 - 0.5 | RA ≤0.05 |
| การตรวจสอบซับสเตรตเซรามิคที่ว่างเปล่า | ||
| ทดสอบใหม่ | เครื่องมือการตรวจสอบ | มาตรฐานการตรวจสอบ |
| ลักษณะภายนอก | การแสดงผลการตรวจสอบ , ไมโครสโคป | ตามแบบสั่งงาน |
| ความยาวและความกว้าง | เวอร์เนียร์คาลิปเปอร์ | |
| ความหนา | เกจวัดความหนา , ไมโครมิเตอร์ | |
| แคมเบอร์ | Digitatic later | |
| ความขรุขระของพื้นผิว | ตัววัดความขรุขระของพื้นผิว | |
การรับรองและสิทธิบัตร
ซัพพลายเออร์ที่มีใบอนุญาตการทำธุรกิจ
ซัพพลายเออร์ที่ผ่านการตรวจสอบแล้ว 
